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    下面只介紹幾種檢測復(fù)合絕緣子的方法：
憎水性檢測方法
    目前，適用于現(xiàn)場的憎水性測量方法主要是瑞典輸電研究所提出的噴水分級法。該方法將復(fù)合絕緣子表面的憎水性分為7級并給出分級判據(jù)和標(biāo)準(zhǔn)圖片，HC-1級和HC-7級分別對應(yīng)憎水性強(qiáng)和差(即 親水)的狀態(tài)。試驗(yàn)中，用普通噴壺對試品表面噴灑水霧，觀察水分在試品表面的分布情況，對比分級判據(jù)和標(biāo)準(zhǔn)圖片，得出絕緣子表面的憎水性狀況。噴水分級法的缺陷是對人的主觀判斷依賴性較大。近年來，數(shù)碼攝像技術(shù)和計(jì)算機(jī)數(shù)字圖像處理技術(shù)的發(fā)展為人們更為客觀和地評價(jià)復(fù)合絕緣子表面的憎水性提供了一條新的道路。瑞典的研究人員對人工模擬老化的復(fù)合絕緣子試樣通過噴水分級法測量憎水性等級，同時(shí)拍攝噴水后絕緣子表面的數(shù)字灰度圖像。利用計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù)從大量數(shù)字灰度圖像中提取出一個(gè)函數(shù)值和HC等級呈單調(diào)關(guān)系的數(shù)學(xué)函數(shù)(命 名為憎水性指示函數(shù)), 從而通過憎水性指示函數(shù)來得出絕緣子的憎水等級。但該研究僅停留在實(shí)驗(yàn)室階段，缺乏對復(fù)雜情況下復(fù)雜表面的分析；雖然對現(xiàn)場在線測試做了可行性預(yù)測，但并沒有付諸實(shí)施。目前,華 北電力大學(xué)(北 京)高電壓與電磁兼容研究所正在從事基于噴水分級法和數(shù)字圖象處理技術(shù)的復(fù)合絕緣子表面憎水性在線檢測方法的研究并已取得階段性成果，全部項(xiàng)目預(yù)計(jì)在2005年好季度完成。

泄漏電流測量法
    泄漏電流測量法是利用泄漏電流沿面形成的原理，在絕緣子接地側(cè)通過引流卡或電流傳感器，在線實(shí)時(shí)測量泄漏電流，利用信號處理單元計(jì)算出一段時(shí)間內(nèi)泄漏電流的各種統(tǒng)計(jì)值(如 峰值平均值、峰值大值或大電流脈沖數(shù)), 通過無線傳輸與有線傳輸相結(jié)合，將數(shù)據(jù)傳輸?shù)綌?shù)據(jù)總站，運(yùn)用專家知識和自學(xué)習(xí)算法對上述三種知識進(jìn)行綜合分析，對絕緣子的積污狀況作出評估和預(yù)測，并為實(shí)現(xiàn)狀態(tài)檢修提供科學(xué)依據(jù)。對于復(fù)合絕緣子，由于其特有的憎水性及憎水遷移性，使得絕緣子受潮時(shí)，在任何一個(gè)瞬間能夠參與導(dǎo)電的只是全部污穢中已經(jīng)溶解而未流失的那部分，稱為“有效污穢”。因此，復(fù)合絕緣子的沿面泄漏電流與有效污穢度有關(guān)，同時(shí)與憎水性也有關(guān)系。另外，絕緣子的泄漏電流與電壓等級、絕緣子型號、絕緣子片數(shù)、環(huán)境溫度、濕度等因素也有關(guān)系。該方法的研究和應(yīng)用目前尚存在較大的爭議。
紫外成像法
    微小但穩(wěn)定的表面局部放電會導(dǎo)致復(fù)合絕緣子傘裙和護(hù)套形成碳化通道或電蝕損。當(dāng)絕緣子表面形成碳化通道時(shí)，其使用壽命會大大降低，甚至在短期內(nèi)被擊穿。利用電子紫外光學(xué)探傷儀可以帶電檢測復(fù)合絕緣子表面由于局部放電而形成的碳化通道和電蝕損，其原理是：局部放電過程中帶電粒子復(fù)合會放出紫外線，當(dāng)絕緣子表面形成導(dǎo)電性碳化通道時(shí)，局部放電加劇。該方法的不足之處是要求在夜間、正溫度環(huán)境下操作；另外要求檢測時(shí)正在發(fā)生局部放電，這要求檢測應(yīng)在高濕度甚至有降雨的環(huán)境中進(jìn)行。但檢測結(jié)果容易受到觀察角度的影響，檢測設(shè)備也較昂貴。

紅外成像法
    紅外成像法可以檢測局部放電、泄漏電流流過絕緣物質(zhì)時(shí)的介電損耗或電阻損耗等引起的絕緣子局部溫度升高，可以用于在線檢測。廣電集團(tuán)佛山供電分公司對大量運(yùn)行復(fù)合絕緣子進(jìn)行了紅外熱像測溫普查，結(jié)果發(fā)現(xiàn)：凡有明顯局部過熱點(diǎn)的絕緣子，其過熱點(diǎn)至絕緣子高壓端硅橡膠表面均顯著發(fā)黑、粉化、變脆、憎水性基本喪失，有的有許多細(xì)小裂紋甚至出現(xiàn)嚴(yán)重破損；發(fā)熱點(diǎn)至高壓端的一段不能承受工頻耐壓試驗(yàn)或陡波沖擊試驗(yàn)，可知發(fā)熱點(diǎn)為內(nèi)絕緣界面局部放電進(jìn)展的位置。儀器造價(jià)高且測量易受陽光、大風(fēng)、潮氣、環(huán)境溫度及一些能引起絕緣子表面溫度急劇變化因素的影響是紅外成像法的不足之處。

電場分布法

    復(fù)合絕緣子存在著多種界面，目前認(rèn)為，因復(fù)合絕緣子金屬端頭處密封不良，潮氣進(jìn)入內(nèi)部，導(dǎo)致沿著芯棒與護(hù)套的界面或芯棒內(nèi)部缺陷發(fā)展的電致碳痕是復(fù)合絕緣子容易發(fā)生也是危險(xiǎn)的故障。陡波試驗(yàn)可以檢測復(fù)合絕緣子的內(nèi)絕緣缺陷，但該方法無法實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場在線檢測。電場分布法可在線檢測復(fù)合絕緣子的內(nèi)絕緣缺陷，且該方法所用儀器較為簡單，對天氣等外界環(huán)境要求甚低。運(yùn)行中的復(fù)合絕緣子，正常狀態(tài)下電場強(qiáng)度和電勢沿絕緣子軸向的變化曲線是光滑的。當(dāng)絕緣子存在導(dǎo)通性缺陷時(shí)，該處電位變?yōu)橐怀��?shù)，故其電場強(qiáng)度將突然降低，電場分布曲線也不再光滑，而是在相應(yīng)的位置上有畸變，中間下陷，兩端上升。因此測量復(fù)合絕緣子串的軸向電場分布可找出絕緣子的內(nèi)絕緣導(dǎo)通性故障。

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